| 年度 | 2005 |
|---|---|
| 全部作者 | 洪伟修 |
| 论文名称 | Depth-Profiling the Electronic Structures at HfO2/Si Interface Grown by Molecular Beam Epitaxy |
| 期刊名称 | J. Vac. Sci. Technol. B |
| 卷数 | 23 |
| 发表日期 | 2005-05-01 |
登入 师大化学系
| 年度 | 2005 |
|---|---|
| 全部作者 | 洪伟修 |
| 论文名称 | Depth-Profiling the Electronic Structures at HfO2/Si Interface Grown by Molecular Beam Epitaxy |
| 期刊名称 | J. Vac. Sci. Technol. B |
| 卷数 | 23 |
| 发表日期 | 2005-05-01 |